发明名称 | 堆叠电容器的柱状底部存储节点的制造方法 | ||
摘要 | 一种堆叠电容器的柱状底部存储节点的方法包括:在基底上形成一第一介电层;在第一介电层上形成一氮化硅层;光刻及蚀刻第一介电层和氮化硅层直至到达该基底,以形成一接触窗口;在接触窗口形成一导电插塞;在氮化硅层和插塞之上形成一第二介电层;光刻及蚀刻第二介电层,藉以在插塞上形成一沟渠;在沟槽中填满一非晶硅层;移除第二介电层的残留部分;以及在非晶硅层上形成一半球型硅晶粒多晶硅层。 | ||
申请公布号 | CN1121067C | 申请公布日期 | 2003.09.10 |
申请号 | CN98122958.1 | 申请日期 | 1998.11.30 |
申请人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 发明人 | 林大成 |
分类号 | H01L21/8242 | 主分类号 | H01L21/8242 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波 |
主权项 | 1.一种堆叠电容器的柱状底部存储节点的制造方法,包括下列步骤:在一基底上形成一第一介电层;在该第一介电层上形成一氮化硅层;光刻及蚀刻该第一介电层和该氮化硅层直至到达该基底,以形成一接触窗口;在该接触窗口形成一导电插塞;在该氮化硅层和该插塞之上形成一第二介电层;光刻及蚀刻该第二介电层,藉以在该插塞上形成一沟渠;在该沟渠中填满一非晶硅层;移除该第二介电层的残留部分;以及在该非晶硅层上形成一半球型硅晶粒多晶硅层。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区 |