| 发明名称 |
Method and device for testing memory circuits |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP0840328(B1) |
申请公布日期 |
2003.09.10 |
| 申请号 |
EP19970119055 |
申请日期 |
1997.10.31 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED |
发明人 |
HAUKNESS, BRENT S. |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/401;G11C29/26;G11C29/34;G11C29/40;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
