发明名称 薄膜晶体管及其制作方法
摘要 在衬底上制作掺有p型杂质的半导体膜。其后,在半导体膜上施加抗蚀剂膜,并用抗蚀剂膜作掩模对半导体膜进行干法腐蚀。由于干法腐蚀,半导体膜的边缘部分从抗蚀剂膜露出。接着,用抗蚀剂膜作掩蔽对半导体膜的边缘部分掺入p型杂质。在半导体膜沟道边缘部分的p型杂质体浓度2-5倍于沟道中间部分的p型杂质体浓度。其后,除去抗蚀剂膜以制作栅绝缘膜和栅电极。
申请公布号 CN1441502A 申请公布日期 2003.09.10
申请号 CN03106779.4 申请日期 2003.02.28
申请人 富士通显示技术株式会社 发明人 黒泽纪雄
分类号 H01L29/786;H01L21/336;G02F1/136 主分类号 H01L29/786
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 李强
主权项 1.一种薄膜晶体管器件,包括:一个衬底;以及一个薄膜晶体管,它被制作在所述衬底上并具有作为有源层的一个半导体膜,其中p型杂质被引入到一个沟道区中,其中所述半导体膜的边缘部分有斜坡,且在所述沟道区的所述边缘部分中的p型杂质的体浓度为所述沟道区的中心部分的p型杂质的体浓度的2至5倍。
地址 日本神奈川县