| 发明名称 |
Test handler apparatus for SMD, BGA, and CSP |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1273925(A3) |
申请公布日期 |
2003.09.03 |
| 申请号 |
EP20020014568 |
申请日期 |
2002.07.01 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS SDN BHD |
发明人 |
SENG, LEE BOON;YONG, TAN KEK |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/316 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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