发明名称 用化学汽相沉积制作薄膜的方法和装置
摘要 一文丘里雾发生器(141、142、143、16)从一含有有机金属化合物的液态前体生成雾,其中的雾滴的直径小于1μm。雾混合后送入一气化器(160),在该气化器中雾滴在低于该前体化合物发生分解的温度的100℃-250℃下气化。气化前体化合物在绝热管道(161、168)中在室温下由载气传送,以防止凝结和过早分解。由气化前体与氧化剂气体混合成的气态反应混合物从一喷头(184)喷入一沉积反应器中,该沉积反应器中有一加热到300℃-600℃的基片(185)。该气化前体在基片(185)上分解而在基片上生成一固体材料薄膜(860)。该薄膜(860)经500℃-900℃的高温处理,生成多晶金属氧化物材料、特别是铁电分层超点阵材料。
申请公布号 CN1120249C 申请公布日期 2003.09.03
申请号 CN98807069.3 申请日期 1998.07.14
申请人 塞姆特里克斯公司 发明人 卡洛斯·A·帕兹德阿罗;拉里·D·麦克米伦;纳拉严·索拉亚攀;杰弗里·W·培根
分类号 C23C16/44;C23C16/40;H01L21/314 主分类号 C23C16/44
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 韩宏
主权项 1、一种制作一集成电路(870)的方法,该集成电路包括一薄膜(860),该方法包括下列步骤:在一沉积反应器(180)中提供一基片(185);提供一含有一金属化合物的液态前体;形成所述液态前体的一雾;汽化所述雾而生成一汽化前体,但不造成所述金属化合物的严重过早分解,以及所述汽化前体与一氧化剂气体在所述沉积反应器(180)中在所述基片(185)上反应生成所述薄膜(860),所述方法的特征在于,所述薄膜(860)包括铁电分层超点阵材料。
地址 美国科罗拉多