| 发明名称 |
VERIFICATION OF EMBEDDED TEST STRUCTURES IN CIRCUIT DESIGNS |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
AU2003205268(A1) |
申请公布日期 |
2003.09.02 |
| 申请号 |
AU20030205268 |
申请日期 |
2003.01.23 |
| 申请人 |
LOGICVISION, INC. |
发明人 |
PAUL PRICE;JEAN-FRANCOIS COTE;AJIT, KUMAR VERMA |
| 分类号 |
G01R31/317;G01R31/3183;G01R31/3185;G06F17/50;(IPC1-7):G06F17/50 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
