首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CIRCUIT AND METHOD FOR DETERMINING THE LOCATION OF DEFECT IN A CIRCUIT
摘要
申请公布号 AU2003205267(A1) 申请公布日期 2003.09.02
申请号 AU20030205267 申请日期 2003.01.23
申请人 LOGICVISION, INC. 发明人 STEPHEN, K. SUNTER
分类号 G01R31/11;G01R31/28;G01R31/3185 主分类号 G01R31/11
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com