发明名称 Processo de análise de uma superfìcie de um substrato, dispositivo para a execução do processo e utilização do dispositivo
摘要 "PROCESSO DE ANáLISE DE UMA SUPERFìCIE DE UM SUBSTRATO, DISPOSITIVO PARA A EXECUçãO DO PROCESSO E UTILIZAçãO DO DISPOSITIVO". A invenção tem por objetivo um processo de análise de uma superfície de um substrato (2) que consiste em tornar pelo menos uma imagem em reflexão de pelo menos um alvo (1) sobre a dita superfície, em extrair por processamento digital fases locais segundo duas direções, caracterizado pelo fato de que se calcula por processamento digital a partir das fases locais, variações de declives locais para daí deduzir variações de curvatura ou variações de altitude da dita superfície.
申请公布号 BR0115538(A) 申请公布日期 2003.09.02
申请号 BR2001PI15538 申请日期 2001.11.21
申请人 SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE 发明人 THOMAS BERTIN-MOUROT;JEAN-PIERRE DOUCHE;DANIEL GERMOND;PAUL-HENRI GUERING;YVES SURREL
分类号 G01B11/30;G01B11/24;G01B11/25;G01N21/896;G01N21/956;(IPC1-7):G01B11/25 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
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