发明名称 半导体晶圆之分割方法
摘要 欲每一个电路的半导体晶片地分割电路形成在藉由界道所区划的多数领域的半导体晶圆W时,至少以遮光机件15被覆半导体晶圆W的电路面,藉雷射光线的照射除去被覆界道S上部的遮光构件15,而在被覆界道S上部的遮光构件15被除去的半导体晶圆W施以化学性蚀刻,俾浸蚀界道而分割成各个半导体晶片C。不需要遮光罩或曝光装置等之故,因而经济不简便,同时未切削半导体晶圆之故,因而可形成无缺口或剥离等的半导体晶片。
申请公布号 TW200303577 申请公布日期 2003.09.01
申请号 TW092103008 申请日期 2003.02.13
申请人 迪思科股份有限公司 发明人 关家一马
分类号 H01L21/301 主分类号 H01L21/301
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本