首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Verfahren zur Ermittlung der Temperatur eines Halbleiter-Chips
摘要
申请公布号 DE19652046(C2) 申请公布日期 2003.08.28
申请号 DE1996152046 申请日期 1996.12.13
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 DRAXELMAYR, DIETER
分类号 G01K7/01;H01L23/34;(IPC1-7):H01L23/62;G01R31/26;H01L23/58 主分类号 G01K7/01
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com