| 主权项 |
一种晶片测试机(二),包括有:一机台,上设有斜板供组设转盘组及测试组,其特征在于:一入料装置,下有底板横置于滑轨内,于滑轨后端组设一快拆,利用其推杆恰可连动压杆向下压持以固定底板,可向上离开对底板的压持使整个入料装置可以左右移动;一转盘组,内有绝缘材料制成的转盘由机台内的动力源所带动;于外框底端固设一适切板,形成半圆状容置至两侧端缘分别设有左、右板片,其中左板片处设有毛刷轻触转盘;而外框及内框间形成空间恰可露出转盘环列的容置凹槽,藉此等距排列的诸多容置凹槽恰可供晶片一一落入后转至测试组作所需的测试;其中透明板系利用数多螺杆螺入斜板上,内且设有高低感测器感测透明板片内之容置空间的晶片容量;一测试组,其底座组设于斜板上,具有凸耳供枢接板架;该板架上设有两支架以分别供组设第一、二测试探针,同时另设有螺杆,该螺杆穿过板架后可与底座上的螺孔螺接以固定整个测试组;一出料组,其弧板利用定位孔供斜设上的定位梢作定位组设,再利用旋钮穿过孔洞后螺入斜板的螺孔中作牢固的结合,使弧板上的吹管恰好与转盘的容置凹槽,使测试完毕的晶片依其测定法予以由导管导入诸分类集中盆中。图式简单说明:第一图:本创作之前视图第二图:本创作之侧视图第三图:本创作之俯视图第四图:本创作之部份前视放大示意图第五图:本创作之部份侧视放大示意图第六图:本创作之另一部份前视放大示意图第七图:本创作之另一部份前视剖面示意图第八图:本创作之另一部份的放大示意图第九图:本创作之测试组剖视及动作示意图第十图:本创作之出料组剖视图第十一图:本创作之出料组另一剖视图第十二图:习用之整体侧视图第十三图:习用之整体俯视图第十四图:习用之入料组俯视图第十五图:习用之入料组侧视图第十六图:习用之入料组前视图第十七图:习用之转盘示意图第十八图:习用之转盘测试组及出料组示意图第十九图:习用之入料组、转盘、测试组及出料组侧视图第二十图:习用之出料组侧视图第二十一图:习用之出料组俯视图 |
