测试接头及其测试固定组件

摘要

本创作揭示一种测试接头(test head)及其测试固定组件(Hi-Fix)。该测试接头具有复数个第一插座基板及复数个第二插座基板，其中该第一插座基板可同时插接复数个待测元件，而第二插座基板与该第一插座基板系以连接器接合。该第一插座基板设有识别单元，用于将储存之识别码供该测试接头确认是否装设为正确之第一插座基板。该识别基元可预先固定于一基板固定框上，再将整组之基板固定框一起装设于测试接头上。该第一插座基板可预先固定于一基板固定框上，再将整组之基板固定框一起装设于对应之第二插座基板上。另外，该连接器具有侦测第一插座基板接合不良之脚位，故测试接头可显示并避免歪斜的组装。本案指定代表图为第4a图。本代表图之元件符号简单说明：元件说明30 测试接头30a 测试接头本体30b 测试固定组件 301 间隔框302 间隔块 303 第二插座基板304 间隔柱 305 同轴电缆线306 底基板 308 连接线311 间隔块 313 第一插座基板314 测试插座315 连接器317 识别单元 33 侦测电路板

主权项

1.一种测试接头,包含一测试固定组件和一测试接头本体,其特征在于该测试固定组件包含:复数个第一插座基板;复数个识别单元,设于该复数个第一插座基板,为可程式化元件;及一侦测电路板,电气连接至该复数个识别单元,用于侦测该识别单元之内建资料是否正确。2.如申请专利范围第1项之测试接头,其另包含:复数个第二插座基板,各第二插座基板具有一连接器;复数个上接续器,连接至该识别单元;及复数个下接续器,连接至该复数个第二插座基板和该复数个上接续器,且电气连接至该侦测电路板。3.如申请专利范围第2项之测试接头,其另包含:复数个侦测端子,设于该第二插座基板主连接器;及复数个连接线,用于将该复数个侦测端子电气连接至该侦测电路板,以验证是否有接触不良之现象。4.如申请专利范围第1项之测试接头,其中该可程式化元件系选用高复杂可程式化元件或可程式化闸阵列元。5.如申请专利范围第1项之测试接头,其另包含一显示面板,用于显示该侦测电路板测试该复数个识别单元后之结果。6.如申请专利范围第3项之测试接头,其另包含一显示面板,用于显示该侦测电路板测试该复数个侦测端子后之结果。7.如申请专利范围第3项之测试接头,其中该复数个侦测端子系设于第二插座基板之连接器之斜对角之一对端子。8.一种测试接头,包含一测试固定组件和一测试接头本体,其特征在于该测试固定组件包含:复数个第一插座基板;复数个第二插座基板,与该复数个第一插座基板以连接器相互接合;复数个基板固定框,用于将一预定数量之该复数个第一插座基板合成一组合件;复数个识别单元,设于该基板固定框上,为可程式化元件;及一侦测电路板,电气连接至该复数个识别单元,用于侦测该识别单元之内建资料是否正确。9.如申请专利范围第8项之测试接头,其另包含:复数个侦测端子,设于该第二插座基板之连接器;及复数个连接线,用于将该复数个侦测端子电气连接至该侦测电路板,用于验证是否有接触不良之现象。10.如申请专利范围第8项之测试接头,其中该可程式化元件系选用高复杂可程式化元件或可程式化闸阵列元。11.如申请专利范围第8项之测试接头,其另包含一显示面板,用于显示该侦测电路板测试该复数个识别单元后之结果。12.如申请专利范围第9项之测试接头,其另包含一显示面板,用于显示该侦测电路板测试该复数个侦测端子后之结果。13.如申请专利范围第9项之测试接头,其中该复数个侦测端子系设于该第二插座基板之连接器之斜对角之一对端子。14.一种测试固定组件,包含:复数个第一插座基板,用于插接复数个待测元件;复数个第二插座基板,与该复数个第一插座基板以连接器相互接合;复数个识别单元,设于该复数个第一插座基板,为可程式化元件;及一侦测电路板,电气连接至该复数个识别单元,用于侦测该识别单元之内建资料是否正确。15.如申请专利范围第14项之测试固定组件,其另包含:复数个上接续器,设于该复数个识别单元上;及复数个下接续器,连接至该复数个第二插座基板和该复数个上接续器,且电气连接至该侦测电路板。16.如申请专利范围第14项之测试固定组件,其另包含:复数个侦测端子,设于该复数个第二插座基板之连接器;及复数个连接线,用于将该复数个侦测端子电气连接至该侦测电路板以验证是否有接触不良之现象。17.如申请专利范围第14项之测试固定组件,其中该可程式化元件系选用高复杂可程式化元件或可程式化闸阵列元。18.如申请专利范围第16项之测试固定组件,其中该复数个侦测端子系设于该复数个第二插座基板之连接器之斜对角之一对端子。19.一种测试固定组件,包含:复数个第一插座基板,用于插接复数个待测元件;复数个第二插座基板,与该第一插座基板以连接器相互接合;复数个基板固定框,用于将一预定数量之该复数个第一插座基板合成一组合件;复数个识别单元,设于该复数个基板固定框上,为可程式化元件;及一侦测电路板,电气连接至该复数个识别单元,用于侦测该识别单元之内建资料是否正确。20.如申请专利范围第19项之测试固定组件,其另包含:复数个侦测端子,设于该复数个第二插座基板之连接器;及复数个连接线,用于将该复数个侦测端子电气连接至该侦测电路板以验证是否有接触不良之现象。21.如申请专利范围第19项之测试固定组件,其中该可程式化元件系选用高复杂可程式化元件或可程式化闸阵列元。22.如申请专利范围第20项之测试固定组件,其中该复数个侦测端子系设于该复数个第二插座基板之连接器之斜对角之一对端子。图式简单说明:图1系一习知之积体电路之自动测试装置之平面示意图;图2系图1沿Ⅱ-Ⅱ剖面线之剖面示意图;图3系中国台湾第428,098专利公告号之测试接头之剖面示意图;图4(a)系本创作之测试接头之第一较佳实施例之剖面示意图;图4(b)系本创作之第一较佳实施例之识别单元之连线方式之示意图;图5(a)系本创作之测试接头之第二较佳实施例之上视图;图5(b)系图4沿Ⅲ-Ⅲ剖面线之剖面示意图;图6系本创作之第二插座基板之上视图;及图7系本创作之测试接头之显示面板之示意图。