用于绝缘体上矽电路模拟之循环操作条件之自动检验

摘要

一尤其用于历史相依与循环操作感测硬体电路，例如绝缘体上矽型硬体，之一改良之硬体电路模拟方法，例如，藉由下列方式来检验正确之循环边界条件：利用属于 CYCLE START之输入电压条件来执行(110)一以前技术静态模拟之第一行程，与利用属于CYCLE STOP之输入电压条件来执行(120)第二静态模拟。在比较(130)该等结果，例如比较节点电压，之后，任何不匹配皆可受到决定，以充当循环操作之不相容之暗示。因此，在利用极多工作与计算来徒然无功地模拟之前，设计能够重新受到设计(140)。一暂态模拟(150)可受到附加，以进行动态误差之自动更正(160,170)。

主权项

1.一种用以模拟硬体电路之方法,其中多个电路节点之电压受到计算,该方法包含下列步骤:在一功能循环之开端执行(110)第一静态模拟行程,与在该循环之末端执行(120)第二静态模拟行程;比较(130)对应之电路节点之该二行程的模拟値;与储存关于受困于静态错误之节点之不匹配资讯,其中在该等节点该等计算値之差异大于预先决定之第一临限値。2.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含下列步骤:产生该不匹配资讯以进行一手动更正;在更正之后,执行(150)一涵盖相同功能循环之暂态分析;比较(160)对应电路节点之该分析之计算値与该第一或第二静态模拟行程之计算値;与储存关于受困于动态错误之节点之不匹配资讯,其中在该等节点该等计算値之差异大于预先决定之第二临限値。3.如申请专利范围第1或2项之方法,进一步包含下列步骤:自动更正(170)一模拟输入档案之动态错误。4.如申请专利范围第1或2项之方法,进一步包含下列步骤:利用更正之模拟输入档案来执行一叠代式硬体模拟。5.如申请专利范围第1项之方法,包含下列步骤:在一功能循环开始之前,设定START TIME。6.如申请专利范围第1项之方法,其中硬体是根据绝缘体上矽(SOI)技术来建造。7.一种具有安装之程式装置之电脑系统,该程式装置包含程式码部份以执行如前述申请专利范围之一之步骤。8.一种具有安装之程式装置之硬体测试电脑系统,该程式装置包含程式码部份以执行如前述申请专利范围第1至6项中任一项之步骤。9.一种储存于一电脑可用型媒体上之电脑程式产品,包含电脑可读取型程式装置,以使得一电脑执行如申请专利范围第1至6项中任一项之方法。图式简单说明:本发明是藉由范例来展示,且未受限于附图之图形之形状,其中附图是一展示,根据本发明之一较佳实例,控制流程之基本步骤的示意图。