发明名称 PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPY AND ELECTRON MICROSCOPIC IMAGING
摘要 <p>L'invention concerne une lame de phase (10) destinée notamment à un microscope électronique et comprenant une électrode annulaire (20) réalisée sous forme de lame annulaire comprenant un orifice entouré d'une bordure extérieure, ainsi qu'un dispositif de maintien (30) comportant au moins un support (31, 32, 33) monté sur la bordure extérieure de l'électrode annulaire (20) et servant à positionner l'électrode annulaire (20) dans une trajectoire de faisceau optoélectronique. Selon l'invention, le dispositif de maintien (30) est réalisé sans symétrie centrale et, pour chaque support (31, 32, 33), aucun autre support ne se trouve sur la bordure extérieure opposée par rapport au milieu de l'orifice. L'invention concerne également un microscope électronique équipé de la lame de phase selon l'invention, ainsi qu'un procédé pour la représentation d'un échantillon par microscopie électronique.</p>
申请公布号 WO2003068399(P1) 申请公布日期 2003.08.21
申请号 EP2003001587 申请日期 2003.02.17
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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