| 发明名称 |
Verfahren zur Vermessung einer gekrümmten Oberfläche eines Lichtwellenleiterbandes |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE19514718(C2) |
申请公布日期 |
2003.08.21 |
| 申请号 |
DE19951014718 |
申请日期 |
1995.04.21 |
| 申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
EIGENSTETTER, HERBERT;HEPP, FRANZ |
| 分类号 |
G01B11/30;(IPC1-7):G01C7/00;G01B11/24;G01M11/08;G02B6/04 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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