发明名称 通路可靠性与e束探测诊断法
摘要 通过在电子器件内确定造成器件故障的故障网格,测试IC器件等电子器件。识别了故障网格后,对它局部加应力。加应力时,只使该被测网格受应力,对器件的其余网格与元件不加应力。在故障网格受应力时,观察该故障网格产生的信号变化。这样测试有助于把故障网格识别为器件的故障源。
申请公布号 CN1437710A 申请公布日期 2003.08.20
申请号 CN01811651.5 申请日期 2001.06.21
申请人 高通股份有限公司 发明人 W·夏;M·维拉法纳;J·塔潘;T·沃森;M·坎贝尔
分类号 G01R31/307 主分类号 G01R31/307
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 张政权
主权项 1.一种在其输出指示IC故障的IC器件中识别故障网格的方法,其特征在于该方法包括:观察网格产生的指示故障的信号,确定潜在故障网格;在不影响其它IC器件网格的情况下,对该潜在故障网格加应力;和观察该潜在故障网格响应于该应力产生的信号变化,据此把该潜在故障网格识别为IC器件的故障网格。
地址 美国加利福尼亚州