摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Vorhersagen eines zukünftigen Prozesszustands und/oder zum Steuern eines Prozessparameters eines dynamischen Prozesses, insbesondere eines chemischen oder eines physikalischen Prozesses, bei dem: a mit Hilfe einer Messein­richtung zu Messzeitpunkten tn n = 1, 2, ... für mindestens einen zeitabhängigen Prozesspa­rameter PP, der den dynamischen Prozess charakterisiert, jeweils ein Messwert Mtn erfasst wird b ein Phasenraum mittels der erfassten Messwerte Mtn oder mittels der erfassten Messwerte Mtn und der Messzeitpunkte tn automatisch ermittelt wird, so dass ein vom Verlauf des dynamischen Prozesses abhängiger Prozesszustand PZMtn, tn des dynami­schen Prozesses einem Phasenraumpunkt PRMtn, tn zugeordnet werden kann und c zumindest ein Teil der erfassten Messwerte Mtn zum Vorhersagen eines zukünftigen Pro­zesszustands PZMtk, tk k > n zu einem zukünftigen Messzeitpunkt tk tk > tn und/oder zum Steuern des mindestens einen Prozessparameters PP verarbeitet werden wobei beim Verarbeiten des zumindest einen Teils der erfassten Messwerte Mtn gemäss Schritt c ver­gangene Messwerte Mtm tm <= tn m = 1, 2, ... 1<= m <= n verarbeitet werden, die während eines vergangene Messzeitpunkte tm umfassenden, charakteristischen Zeitraums DELTAt erfasst wurden, und wobei der charakteristische Zeitraum DELTAt so gewählt wird, dass in dem Phasen­raum ein vorbestimmter Teilphasenraum um einen charakteristischen Phasenraumpunkt PRMtc, tc tc <= tm c = 1, 2, ... 1 <= c <= m herum von dem dynamischen Prozess zweimal durchlaufen wird.
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申请人 |
MIR-CHEM GMBH;PLATH, PETER, JOERG;HASS, ERNST-CHRISTOPH;UWE, SYDOW;BUHLERT, MAGNUS |
发明人 |
PLATH, PETER, JOERG;HASS, ERNST-CHRISTOPH;UWE, SYDOW;BUHLERT, MAGNUS |