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发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
摘要
申请公布号 DE69810681(T2) 申请公布日期 2003.08.14
申请号 DE19986010681T 申请日期 1998.02.27
申请人 NIDEC-READ CORP., UJI 发明人 YAMASHITA, MUNEHIRO
分类号 G01R31/02;G01R1/06;G01R31/28;G01R31/302;G01R31/312;H05K1/02;H05K1/11;(IPC1-7):G01R31/312 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
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