Apparatus and methods for device quality evaluation,申请号GB20030015609-传众专利搜索

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发明名称	Apparatus and methods for device quality evaluation
摘要
申请公布号	GB0315609(D0)	申请公布日期	2003.08.13
申请号	GB20030015609	申请日期	2003.07.03
申请人	VER-TEC SECURITY SYSTEMS LIMITED	发明人
分类号	G03H1/18;G03H1/22;G07D7/12	主分类号	G03H1/18
代理机构		代理人
主权项
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