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发明名称 Data path calibration and testing mode using a data bus for semiconductor memories
摘要
申请公布号 EP1132925(A3) 申请公布日期 2003.08.13
申请号 EP20010103766 申请日期 2001.02.15
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES NORTH AMERICA CORP.;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 HANSON, DAVID R.;KIRIHATA, TOSHIAKI;MUELLER, GERHARD
分类号 G11C29/02;(IPC1-7):G11C29/00;G11C7/10 主分类号 G11C29/02
代理机构 代理人
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