发明名称 | 等离子体增强化学汽相淀积装置 | ||
摘要 | 本发明提供等离子体增强化学汽相淀积装置,包括反应室,处理气体引入其中,排放气体从其中排出;基座,具有放置半导体衬底于其上的第一区域、和第一区域以外的第二区域;电极,它面对基座,与其共同作用以在它们之间产生等离子体,从而在置于第一区域的半导体衬底上形成薄膜,其特征是,钟罩形基座罩由陶瓷绝缘材料构成,其底端朝电极开口,并在反应室的内壁和等离子体之间延伸,以将它们彼此隔开,其顶端覆盖基座的第二区域并形成有一开口,该开口和基座第一区域共同延伸。 | ||
申请公布号 | CN1117889C | 申请公布日期 | 2003.08.13 |
申请号 | CN98101147.0 | 申请日期 | 1998.04.02 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 田桑哲也 |
分类号 | C23C16/50 | 主分类号 | C23C16/50 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏 |
主权项 | 1.一种等离子体增强化学汽相淀积装置,包括:(a)反应室(31),处理气体引入其中,排放气体从其中排出;(b)基座(32),具有置半导体衬底(33)于其上的第一区域(32a)以及第一区域(32a)以外的第二区域(32b);(c)电极(34),它面对基座(32),与基座(32)共同作用以在它们之间产生等离子体(35),从而在置于基座(32)第一区域(32a)之上的半导体衬底(33)上形成薄膜;其特征是,钟罩形基座罩(38)由陶瓷绝缘材料构成,其底端朝电极(34)开口,并在反应室(31)的内壁(31a)和等离子体(35)之间延伸,以将它们彼此隔开,其顶端覆盖基座(32)的第二区域(32b)并形成有一开口(38c),该开口和基座(32)第一区域(32a)共同延伸。 | ||
地址 | 日本东京 |