对集成电路产生测试模式的方法

摘要

一种用于避免由于在输出端的数值同时改变而产生的噪声的方法，其中包括：第一过程，计数当边界扫描单元输出输入模式时输出缓冲器15A-15D的输出值发生改变的输出缓冲器的数目；第二过程，检查所计数的输出缓冲器的输出数值改变时产生的噪声量；第三过程，选择所检查的输出缓冲器使得所检查的噪声量在许可的噪声量范围内；第四过程，输出一个修改而获得的模式作为测试模式，使得所选择的输出缓冲器的输出数值可以改变。

主权项

1、一种用于产生测试模式的方法，该方法在来自逻辑电路的m个输出(m为任意自然数)通过扫描触发器和输出缓冲器施加到m个输出端上时，对设置于m个扫描触发器中的集成电路产生测试模式，其特征在于，该方法包括：第一过程，当所述m个扫描触发器输出输入模式时，计数输出值发生改变的输出缓冲器的数目；第二过程，检查在来自于所述第一过程中计数的输出缓冲器的所有输出数值改变时产生的噪声量；第三过程，选择在所述第一过程中检查的输出缓冲器，使得在所述第二过程中检查的噪声量能在许可的噪声量范围内；以及第四过程，输出一个通过修改输入模式而获得的模式作为一个测试模式，使得在所述第三过程中选择的输出缓冲器的输出值可以改变。