| 主权项 |
1.一种晶片测试载架结构,包含:一基座,该基座中央处开设一空间,且该空间侧边至少设有一定位凹槽;一基架,套于该空间之侧边,且该基架之侧边至少设有一定位凸槽,衔接于该定位凹槽,另,该基架底部至少一侧边向中央处延伸一基板,藉由该基板的延伸程度不同可测试不同大小尺寸之晶片;以及一上盖,盖合于该基座之上端。2.如申请专利范围第1项所述之晶片测试载架结构,其中更包含一底板设于基座之下端,且该底板中央亦设一开口。3.如申请专利范围第2项所述之晶片测试载架结构,其中更包含一具有软性且导电之接触面板,由该底板之下端盖合于该开口。4.如申请专利范围第1项所述之晶片测试载架结构,其中更包含一T型锁钮由该上盖之上端贯穿至该上盖之下端,且于该上盖之下端连接一主压板。5.如申请专利范围第4项所述之晶片测试载架结构,其中更包含一辅助压板,可设于该主压板及该基架之上端,藉以压合一测试之晶片。图式简单说明:第一图 系习知技艺中之晶片测试载架结构100之立体图;第二图 系习知技艺中之晶片测试载架结构100之示意图;第三图 系本创作之晶片测试载架结构200之爆炸图;以及第四图 系本创作之晶片测试载架结构200之组合图。 |
