| 发明名称 |
BIST FOR PARALLEL TESTING OF ON-CHIP MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1332416(A2) |
申请公布日期 |
2003.08.06 |
| 申请号 |
EP20000963238 |
申请日期 |
2000.09.06 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
PANDEY, PRAMOD KUMAR;NAJAFI, ALI |
| 分类号 |
G06F11/27;(IPC1-7):G06F1/00 |
主分类号 |
G06F11/27 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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