发明名称 多晶片电阻器之制造方法
摘要 多晶片电阻器藉以下之方法制造。于基板第1面形成多数第1电极层,再于基板之第1面形成分别与第1电极层电性连接之多数电阻体。之后将用以分离第1电极层之多数狭缝形成于基板,接着形成端面电极,而该端面电极系形成于基板之狭缝之端面且连接于接近多数第1电极层之狭缝之端面。再利用多数狭缝切断基板以分离为多数薄长方形基板。最后除去端面电极之部分使多数电阻体彼此不导通。藉该制造方法,可使薄长方形基板上之多数端面电极之尺寸精度向上提升,藉此可确保端面电极间之绝缘距离。因此,可降低将电阻器封装于封装基板时之封装不良。
申请公布号 TW200302494 申请公布日期 2003.08.01
申请号 TW092100721 申请日期 2003.01.14
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 松下俊树;木下泰治;星德圣治;高桥正治;安东良典
分类号 H01C17/00 主分类号 H01C17/00
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本