| 主权项 |
1.一种以TRL求得最佳RLC串并联射频效应的方法,其系利用一网路分析仪(Network Analysis)配合一穿透反射线校正(Trough Reflection Line Calibration,TRL Calibration),用以量测RLC于高频时的实际阻抗値,进而可建立起新的阻抗模组,该穿透反射线校正之测试端处设置有复数个衬垫,该复数个衬垫分别取其半数分别设置于二测试端,且二测试端中间设置有贯穿之轨迹线,并将待测试电子元件连接于二测试端之中央,再以串联或并联的方式测试求得一参数,再以网路分析仪作一量测,以求得一等效阻抗,再以模拟方式获得一组等效电阻(R)、电容(C)及电感(L)之数値。2.如申请专利范围第1项所述之以TRL求得最佳RLC串并联射频效应的方法,其中该复数个衬垫系为四个衬垫,而四个衬垫以二个为一单位,分置于穿透反射线校正之二测试端。3.如申请专利范围第1项所述之以TRL求得最佳RLC串并联射频效应的方法,其中该穿透反射线校正具有三测试规格,其系分别为:穿透测试(Trough,T)、反射测试(Reflection,R)及线测试(Line,L)。4.如申请专利范围第1项所述之以TRL求得最佳RLC串并联射频效应的方法,其中该电阻、电容、电感系由陶瓷材质所构成。图式简单说明:图一 系为理想电容与实际电容之比较图。图二 系为理想电感与实际电感之比较图。图三 系为本发明TRL之测试结构示意图。图四A 系为本发明利用图三之测试结构以测量串联元件参数値之结构图。图四B 系为本发明利用图三之测试结构以测量并联元件参数値之结构图。 |
