发明名称 晶体震荡焊垫电路与应用此电路之测试方法
摘要 一种晶体震荡焊垫电路系用于测试机台上,以接收一时脉讯号后,相对应该输入讯号之输出讯号将被用来做为测试样品之参考时脉讯号,之后进行测试样式之比对。测试电路至少包括驱动电路与缓冲器。驱动电路具有输入端与输出端,其中输入端接收时脉讯号,且输入与输出端均耦接至测试负载。缓冲器则耦接至驱动电路之输入端,以接收时脉讯号,并将输出输出讯号至内部电路,其中更撷取输出讯号做为参考时脉讯号用以进行测试。
申请公布号 TW544517 申请公布日期 2003.08.01
申请号 TW089128096 申请日期 2000.12.28
申请人 智原科技股份有限公司 发明人 吴政晃;赵炳勋
分类号 G01R23/00 主分类号 G01R23/00
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种晶体震荡焊垫电路,于一测试机台上接收一时脉讯号后,再量测对应该输入讯号之一输出讯号,该晶体震荡焊垫电路包括:一驱动电路,具有一输入端与一输出端,该输入端接收该时脉讯号,该输入与该输出端均耦接至一测试机台上负载;以及一缓冲器,耦接至该驱动电路之该输入端,以接收该时脉讯号,并将输出该输出讯号至一内部电路,其中撷取该输出讯号用以进行测试。2.如申请专利范围第1项所述之晶体震荡焊垫电路,其中该缓冲器为波形整形缓冲器(shaping buffer)。3.一种测试方法,用以检测一晶体震荡焊垫电路之输出讯号,该晶体震荡焊垫电路包括一驱动电路与一缓冲器,该驱动电路与该缓冲器之输入端耦接一起,该测试方法包括:输入一输入讯号至该驱动电路与该缓冲器之输入端,使该输入讯号分别经过该驱动电路与该缓冲器;以及读取该缓冲器之一输出讯号,进行测试样式比对,其中该输出讯号仅通过该缓冲器,使得该输入讯号与该输出讯号间没有时间移位。4.如申请专利范围第3项所述之测试方法,其中该输入讯号为一预设测试样式。5.如申请专利范围第4项所述之测试方法,其中该预设测试样式系一时脉讯号。6.如申请专利范围第4项所述之测试方法,其中该预设测试样式系一弦波讯号。图式简单说明:第1图绘示习知测试电路之输出与输入波形的比较示意图;第2图绘示依据本发明之实施例的测试电路示意图;第3图绘示依据本发明之实施例的测试电路所得到之输出与输入波形的比较示意图;以及第4图绘示依据本发明之实施例的测试电路所得到之输出与输入波形的测试模拟图。
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