发明名称 |
Halbleiterspeichervorrichtung |
摘要 |
Ein CMOS-SRAM weist eine Mehrzahl von Speicherzellen eines vollständig aus CMOS bestehenden Typs und eine kapazitive Platte auf. Die Speicherzellen sind zweidimensional in der Reihenrichtung und der Spaltenrichtung angeordnet. Die kapazitive Platte fügt eine zusätzliche Kapazität zu Knoten zum Speichern von Daten hinzu, um weiche Fehler zu verringern. Die Mehrzahl von Speicherzellen teilt sich die kapazitive Platte. Die kapazitiven Platten sind durch jede Spalte, d. h. in der Reihenrichtung, getrennt. Die kapazitive Platte ist mit einer Energieversorgungsspannungsleitung verbunden, um das Spannungsversorgungssystem zu vereinfachen. Wenn eine Bereitschaftsstörung in der Speicherzelle einer bestimmten Spalte auftritt, wird die Speicherzelle durch eine redundante Speicherzelle ersetzt.
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申请公布号 |
DE10243119(A1) |
申请公布日期 |
2003.07.31 |
申请号 |
DE20021043119 |
申请日期 |
2002.09.17 |
申请人 |
MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
OHBAYASHI, SHIGEKI;ISHIGAKI, YOSHIYUKI;YOKOYAMA, TAKAHIRO |
分类号 |
G11C11/41;G11C11/412;G11C29/00;G11C29/04;H01L21/8244;H01L27/02;H01L27/10;H01L27/11;(IPC1-7):G11C11/413 |
主分类号 |
G11C11/41 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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