发明名称 | 半导体装置 | ||
摘要 | 本发明旨在实现这样的半导体装置,该装置能为消除因制造偏差引起的延迟误差以达到要求的延迟量而进行修正。该装置中设有:将周期已确定的时钟信号CLK1输入其延迟量已被分别设定的多个1ns延迟列4,根据由这些1ns延迟列4引起的时钟信号CLK1的相位改变,测定对应于设定延迟量的实际延迟量的延迟量测定部件;由连接数可自由调整的延迟列8构成的多个延迟部件;以及按照与所述延迟测定部件测定的设定延迟量对应的实际延迟量,生成用以修正延迟列8的连接数的修正信号,以使所述延迟部件的延迟列分别达到要求延迟量的修正信号生成部件。 | ||
申请公布号 | CN1433148A | 申请公布日期 | 2003.07.30 |
申请号 | CN02143240.6 | 申请日期 | 2002.09.20 |
申请人 | 三菱电机株式会社 | 发明人 | 矢泽弥亘;中川伸一;和田恭司 |
分类号 | H03K5/13 | 主分类号 | H03K5/13 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
主权项 | 1.一种半导体装置,其中设有:延迟量测定部件(5、6与7),该部件将周期已确定的时钟信号输入其延迟量被分别设定的多个延迟列(4),根据由这些延迟列引起的相位改变,测定对应于设定延迟量的实际延迟量;由延迟元件的连接数可自由调整的延迟列构成的多个延迟部件(8);以及修正信号生成部件(9),该部件根据与所述延迟测定部件测定的设定延迟量对应的实际延迟量,生成用以修正延迟列的连接数的修正信号,以使所述延迟部件的延迟列分别达到要求的延迟量。 | ||
地址 | 日本东京都 |