发明名称 内存测试机与集成电路分类机的直接连接界面装置
摘要 一种适于连接内存测试机与集成电路分类机的直接连接界面装置,此直接连接界面装置包括主体底板、印刷电路板、第一对位结构、第一固定结构。其中主体底板具有第二对位结构与第二固定结构,并设置于集成电路分类机上,主体底板的上缘低于喂料飞梭活动区,且主体底板具有一开口,此开口暴露出分配器活动区。印刷电路板设置于内存测试机上。第一对位结构设置于内存测试机上,且适于与第二对位结构相对位嵌合。第一固定结构设置于内存测试机上,且适于可拆卸式连接于第二固定结构。
申请公布号 CN1433057A 申请公布日期 2003.07.30
申请号 CN02101572.4 申请日期 2002.01.10
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 杨伟源;施光华;陈金福
分类号 H01L21/66;G01R31/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 北京集佳专利商标事务所 代理人 王学强
主权项 1.一种内存测试机与集成电路分类机的直接连接界面装置,适用于连接一内存测试机与一集成电路分类机,其特征在于:该集成电路分类机的连接面具有一测试夹具、一喂料飞梭活动区与一分配器活动区,且该喂料飞梭活动区位于该分配器活动区的上方,该测试夹具位于该喂料飞梭活动区与该分配器活动区之间,该直接连接界面装置包括:一主体底板,该主体底板具有一第一对位结构与一第一固定结构,且该主体底板设置于该集成电路分类机的连接面上,其中该主体底板的上缘低于该喂料飞梭活动区,且该主体底板具有一开口,该开口暴露出该分配器活动区;一印刷电路板,其中该印刷电路板的一面设置于该内存测试机上,且该印刷电路板的另一面适于电性连接该测试夹具;一第二对位结构,设置于该内存测试机上,该第二对位结构适于与该第一对位结构相对位嵌合;以及一第二固定结构,设置于该内存测试机上,该第二固定结构适于可拆拆卸式连接于该第一固定结构。
地址 台湾省新竹科学工业园区力行路16号