发明名称 光测量装置
摘要 使用本荧光测量装置或磷光测量装置对试样进行分析测量时,从光源发出的激励光至试样的光路和由试样发出的荧光或磷光至探测单元的光路都被阻断。二条光路由一只截光器来阻断。
申请公布号 CN1432804A 申请公布日期 2003.07.30
申请号 CN02144003.4 申请日期 2002.09.29
申请人 日立全球先端科技股份有限公司 发明人 齊藤充弘;高橋智;松本孝一
分类号 G01N21/64 主分类号 G01N21/64
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 钱慰民
主权项 1.一种光测量装置,其特征在于,它包括:光源:从所述光源发出的光中选择、取出和聚焦测量所需波长的光的光学系统;把所述聚焦光照射到被测试样并探测所述试样发出的荧光和磷光的探测器;和至少一个光路屏蔽机构,分别安装在所述光源和所述被测试样之间的光路上以及所述被测试样和所述探测器之间的光路上,其中:所述多个光路阻断机构的结构通过一块共用的光屏蔽板阻断所述光路。
地址 日本东京