发明名称 METODO DIAGNOSTICO PER RILEVARE GUALSIASI CONTATTO DIFETTOSO CAUSATODA MICRO-CORTOCIRCUITI IN UN CONDUTTORE.
摘要
申请公布号 IT1318200(B1) 申请公布日期 2003.07.28
申请号 IT2000MI01641 申请日期 2000.07.19
申请人 YOO RIM ENGINEERING CO. LTD. 发明人 SANG HWAN KIM
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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