| 发明名称 |
Equipment and method for measuring the basic weight and thickness of the materials in films, ribbons and the like, while simultaneously inspecting their surface |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1103783(B1) |
申请公布日期 |
2003.07.23 |
| 申请号 |
EP20000124723 |
申请日期 |
2000.11.13 |
| 申请人 |
ELECTRONIC SYSTEMS S.P.A. |
发明人 |
CHIODINI, SERGIO;TRAFICANTE, FRANCESCO |
| 分类号 |
G01B11/06;G01B15/02;G01G9/00;G01G17/02;(IPC1-7):G01B11/06 |
主分类号 |
G01B11/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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