| 发明名称 | 一种氧化膜临界开裂应力的测量方法及装置 | ||
| 摘要 | 一种氧化膜临界开裂应力的测量技术，其特征在于：在采用单面氧化弯曲方法测量氧化膜应力的同时，用声发射技术对氧化膜玻裂进行监测，监测到的第一个声发射信号即表征氧化膜的初始破裂，所对应的同一时刻的氧化膜应力即为氧化膜临界开裂应力。本发明可以准确直接地给出氧化膜的临界开裂应力。 | ||
| 申请公布号 | CN1115551C | 申请公布日期 | 2003.07.23 |
| 申请号 | CN97100974.0 | 申请日期 | 1997.03.17 |
| 申请人 | 中国科学院金属腐蚀与防护研究所 | 发明人 | 李铁藩;李美栓;周龙江;沈嘉年 |
| 分类号 | G01L1/04;G01N13/00 | 主分类号 | G01L1/04 |
| 代理机构 | 沈阳科苑专利代理有限责任公司 | 代理人 | 张晨 |
| 主权项 | 1.一种氧化膜临界开裂应力的测量方法，其特征在于：在采用单面氧化弯曲方法测量氧化膜内应力的同时，用声发射技术对氧化膜破裂进行监测，监测到的第一个声发射信号即表征氧化膜的初始破裂，所对应的同一时刻的氧化膜内应力即为氧化膜临界开裂应力。 | ||
| 地址 | 110015辽宁省沈阳市东陵区文萃路62号 | ||