发明名称 检测表面形状的点衍射干涉仪
摘要 一种检测表面形状的点衍射干涉仪,包括光学部分和数据采集、处理和控制部分。光学部分包含激光器,沿激光束前进方向的光轴上,依次设有会聚透镜,镀有超分辨掩膜的固体浸润透镜,在光轴的上方放置待测器件,下方设有成像透镜;数据采集、处理和控制部分包含CCD摄像机,计算机和位移控制器。本发明的关键是通过采用固体浸润透镜和超分辨掩膜的技术,获得了一个更小的小孔作为点衍射干涉仪的理想球面波的光源,该小孔不仅位置和大小均可调,而且光透过率高,对入射光束的质量要求较低,因而本发明是一种测量精度高、易于装配和调整的检测器件表面形状的装置。
申请公布号 CN1431477A 申请公布日期 2003.07.23
申请号 CN03115412.3 申请日期 2003.02.14
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 徐文东;周飞;王阳;张锋;魏劲松
分类号 G01J3/45;G01N21/45 主分类号 G01J3/45
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1.一种检测表面形状的点衍射干涉仪,包括光学部分和数据采集、处理和控制部分,其特征在于:所述的光学部分包含激光器(1),沿激光束前进方向的光轴上,依次设有会聚透镜(2),镀有超分辨掩膜(3b)的固体浸润透镜(3),在光轴的上方放置待测器件(4),下方设有成像透镜(6);所述的数据采集、处理和控制部分包含CCD摄像机(5)、计算机(7)和位移控制器(8);上述各元器件的位置关系如下:该固体浸润透镜(3)固定在该位移控制装置(8)上,计算机(7)连接并控制CCD摄像机(5)和位移控制器(8)的工作,激光器(1)发出的激光束经会聚透镜(2)后,其焦点落在固体浸润透镜(3)一侧的超分辨掩膜(3b)中间,形成小孔并经过该小孔(3c)照射待测器件(4),该待测器件(4)的表面TS反射的测量光束聚焦到该超分辨掩膜(3b)的表面,经该超分辨掩膜(3b)的反射后,该测量光束和从小孔(3c)发出的参考光束一起经成像透镜(6)进入CCD摄像机(5)。
地址 201800上海市800-211邮政信箱
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