| 主权项 |
1.一种CRT收敛性测定方法,用电子束照射在CRT显示面的既定位置上使此显示面表示既定的测试图案,用摄影装置将上述测试图案进行摄影,用运算装置基于被摄影的影像信号对各色成分运算出上述测试图案之亮度重心,然后基于此运算结果求出上述CRT的收敛性量,其特征在于:将由电子束照射在CRT显示面的既定位置上所形成的电子束能量分布之空间频率,限制在既定的低频范围内。2.如申请专利范围第1项所述的CRT收敛性测定方法,其中上述电子束能量分布之空间频率,被限制在与CRT萤光体之间隔对应的既定的低频范围内。3.一种CRT收敛性测定装置,包括:影像信号产生装置,用于产生影像信号,此影像信号当将电子束照射在CRT显示面的既定位置上时,使此显示面表示该既定的测试图案;摄影装置,被设置在CRT显示面的对面,用于将上述影像信号在CRT显示面上所显示的测试图案进行摄影;以及影像处理装置,利用上述摄影装置对测试图案进行摄影所得到的影像资料,运算出与CRT的收敛性量有关的资料;其特征在于:上述影像信号产生装置系用于产生使由电子束照射在CRT显示面的既定位置上所形成的电子束能量分布之空间频率被限制在既定的低频范围内的影像信号。4.如申请专利范围第3项所述之CRT收敛性测定装置,其中还包括运算装置,此装置利用上述影像处理装置所得到的与CRT收敛性量有关的资料,运算出上述测试图案中有关各色成分之亮度重心,然后基于上述运算结果求出上述CRT的收敛性量。5.如申请专利范围第3或4项所述之CRT收敛性测定装置,其中上述影像信号产生装置系用于产生使上述电子束能量分布之空间频率被限制在与CRT萤光体之间隔对应的既定的低频范围内的影像信号。6.如申请专利范围第3或4项所述之CRT收敛性测定装置,其中上述影像信号产生装置系用于产生对应在电子束照射期间的边缘部被平滑后的矩形波的影像信号。7.如申请专利范围第3或4项所述之CRT收敛性测定装置,其中上述影像信号产生装置系用于产生对应在电子束照射期间的边缘部呈直线倾斜状的梯形的影像信号。8.如申请专利范围第3或4项所述之CRT收敛性测定装置,其中上述影像信号产生装置系用于产生近似于对应在电子束照射期间的高斯分布的阶梯形的影像信号。9.一种CRT收敛性测定装置,包括:影像信号产生装置,用于产生影像信号,此影像信号当将电子束照射在CRT显示面的既定位置上时,使此显示面表示该既定的测试图案;摄影装置,被设置在CRT显示面的对面,用于将基于上述影像信号在CRT显示面上所显示的测试图案进行摄影;以及影像处理装置,利用上述摄影装置对测试图案进行摄影所得到的影像资料,运算出与CRT的收敛性量有关的资料;其特征在于:上述影像信号产生装置还包括:用于产生测试图案所需的图案信号的信号产生装置;以及将上述信号产生装置所产生的图案信号中既定的高频率成分滤掉的滤波装置。10.一种影像信号产生装置,用于将CRT显示面上所显示的测试图案进行摄影,然后利用所得到的影像资料运算出与CRT收敛性量有关的资料的CRT收敛性测定装置中,其特征在于:产生使由电子束照射在CRT显示面的既定位置上所形成的电子束能量分布之空间频率被限制在既定的低频范围内的影像信号。11.如申请专利范围第10项所述之影像信号产生装置,其中上述影像信号系使电子束能量分布之空间频率被限制在与CRT萤光体之间隔对应的既定的低频范围内。12.如申请专利范围第10或11项所述之影像信号产生装置,其中上述影像信号系对应在电子束照射期间的边缘部被平滑后的矩形波的影像信号。13.如申请专利范围第10或11项所述之影像信号产生装置,其中上述影像信号系对应在电子束照射期间的边缘部呈直线倾斜状的梯形的影像信号。14.如申请专利范围第10或11项所述之影像信号产生装置,其中上述影像信号系近似于对应在电子束照射期间的高斯分布的阶梯形的影像信号。15.一种影像信号产生装置,用于将CRT显示面上所显示的测试图案进行摄影,然后利用所得到的影像资料运算出与CRT收敛性量有关的资料的CRT收敛性测定装置中,其特征在于:该影像信号产生装置还包括:用于产生测试图案所需的图案信号的信号产生装置;以及将上述信号产生装置所产生的图案信号中既定的高频率成分滤掉的滤波装置。图式简单说明:图1系利用本发明之收敛性量测定装置进行收敛性量测定的全体构成示意图。图2系本发明之收敛性量测定装置之功能方块图。图3系作为测定对象的彩色CRT之结构示意图。图4系CCD区域感测器之画素构成示意图。图5系障删型CRT之显示面主要构成构件立体图。图6系在彩色CRT显示面上所显示的纵线条图案与影像信号之间关系示意图。图7系纵线条图案之发光状态与水平扫描电子束BM形状之间关系示意图。图8系萤光体间隔运算方法说明图,其中图8(A)系使CRT单色全部发光时摄影得到的条纹状影像示意图,图8(b)系读取影像资料之后得到的信号示意图。图9系藉由电子束扫描在CRT显示面上所形成的电子能量分布示意图。图10系使实际电子束分布之位置相对于萤光体排列的变化之示意图。图11系图10中实际电子束分布E1之发光萤光体分布和实际电子束分布E2之发光萤光体分布示意图。图12系假设静止时电子束Bm之分布为高斯分布,影像信号为矩形波信号时,使实际电子束分布E之位置相对于纵条线萤光体排列、在萤光体排列间隔范围内变化时,水平方向亮度重心最大变化量之模拟图表。图13系为图10中使分布宽度窄的实际电子束分布位置变化时的状态示意图。图14系在图13中实际电子束分布E1之发光萤光体分布和实际电子束分布E2之发光萤光体分布示意图。图15系将矩形波信号经由滤波电路滤波平滑后之波形示意图。图16系将由矩形波信号构成的影像信号经由低通滤波器时,低通滤波电路之各种时间常数与亮度重心的最大变化量之间关系示意图。图17系为限制高频率成分之另一实施例,即上昇沿和下降沿呈梯形变化之影像信号示意图。图18系为限制高频率成分之另一实施例,即由每个阶梯所构成之包络线呈近似于高斯分布之影像信号示意图。图19系表示在多孔障栅型彩色CRT萤光显示面上,反复测定横向收敛性量过程中所进行的第一次测定中,点(dot)图案之显示位置与亮度重心之关系示意图。图20系表示在多孔障栅型彩色CRT萤光显示面上,反复测定横向收敛性量过程中所进行的第二次测定中,点(dot)图案之显示位置与亮度重心之关系示意图。 |
