| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft einen Einzelkornanalysator (10) bestehend aus (a) einer Förder- und Separationseinheit (14), in der ein zu untersuchendes Korn (28) (Einzelkorn) aus einer Vielzahl von Körnern (Messgut) separiert und vereinzelt einem Spektrometer (16) zugeführt wird sowie (b) dem Spektrometer (16) mit einer Messzelle (34), durch die das Korn (28) während der Messung transportiert wird und die eine auf das Korn (28) ausgerichteten Strahlungsquelle für den sichtbaren Bereich und den nahen Infrarot-Bereich (VIS/NIR) und einen die Reflektion vom Korn (28) erfassenden Detektor (42) im spektralen Messbereich von 380 bis 2400 nm beinhaltet.</p> |
