| 主权项 |
1.一种用于矽基液晶面板之矽基板之电性检测方法,用以检测一矽基板上之一第一画素是否与相邻之一第二画素形成短路,其中,该第一画素系与一第一扫描线与一第一资料线电性耦接,且该第二画素系与该第一扫描线与一第二资料线电性耦接,该电性检测方法至少具有下列步骤:致能(enable)该第一扫描线;以及检测该第一资料线与该第二资料线间之电阻値,当该电阻値小于一第一预设电阻値时,则该第一画素与该第二画素短路;当该电阻値大于一第二预设电阻値时,则该第一画素与该第二画素电性隔离,其中该第二预设电阻値大于该第一预设电阻値。2.一种用于矽基液晶面板之矽基板之电性检测方法,用以检测一矽基板上之一第一画素是否与相邻之一第二画素形成短路,其中,该第一画素系与一第一扫描线与一第一资料线电性耦接,且该第二画素系与一第二扫描线与该第一资料线电性耦接,该电性检测方法至少具有下列步骤:致能该第二扫描线,自该第一资料线输入一第一信号;致能该第一扫描线,自该第一资料线输入一第二信号;自该第一资料线输入该第一信号;以及致能该第二扫描线,检测该第一资料线之电压,当该第一资料线为该第一信号时,则该第一画素与该第二画素间系形成电性阻隔,反之,则该第一画素与该第二画素间系形成短路。3.如申请专利范围第2项所述之电性检测方法,其中该第一信号系为一接地信号。4.如申请专利范围第2项所述之电性检测方法,其中该第二信号系为一外接电压信号。5.如申请专利范围第2项所述之电性检测方法,其中,若该第一信号系为该接地信号,且该第二信号系为一外接电压信号,当检测该第一资料线之电压时,若电压为0,则该第一画素与该第二画素间系电性阻隔,若否,则该第一画素与该第二画素间系形成短路。6.如申请专利范围第2项所述之电性检测方法,在该第一资料线输入一第一信号后,更包括失能该第二扫描线的步骤。7.如申请专利范围第2项所述之电性检测方法,在该第一资料线输入一第二信号后,更包括失能该第一扫描线的步骤。图式简单说明:第1图绘示反射式矽基液晶面板之单一画素之剖面图。第2图绘示矽基液晶面板之矽基板的俯视示意图。第3图绘示矽基液晶面板中,扫描线与资料线所形成之驱动电路之电路图。 |
