发明名称 |
用于测试硬盘驱动器的系统和方法 |
摘要 |
一种用于对若干个硬盘驱动器(HDD)进行多测试的系统,包括一个按行和列有次序堆放HDD的高温老化柜;一个控制柜,该柜用一个间壁和所述的老化柜隔离,用于按行和列可拆卸地安装若干个HDD测试计算机,并且和所述的HDD电连接;以及,一个用于控制老化柜和HDD测试计算机内部环境的主机。 |
申请公布号 |
CN1114109C |
申请公布日期 |
2003.07.09 |
申请号 |
CN97113226.7 |
申请日期 |
1997.05.11 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
白云迪;姜廷旻;柳大根;成荣福;南彰祐 |
分类号 |
G01R31/00;G11B20/18;B25J21/00 |
主分类号 |
G01R31/00 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
陈景峻;王忠忠 |
主权项 |
1、一种用于对若干个硬盘驱动器进行多测试的系统,包括:一个按行和列有次序地堆放所述硬盘驱动器的高温老化柜;一个控制柜,该柜用一个间壁和所述的老化柜隔离,用于按行和列可拆卸地安装若干个硬盘驱动器测试计算机,并且和所述的硬盘驱动器电连接,以及,一个含有监视器的主机,用于控制所述的老化柜的内部环境和所述硬盘驱动器测试计算机对硬盘驱动器的测试操作。 |
地址 |
韩国京畿道 |