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Eine Halbleiterspeichereinrichtung, welche während einer Testoperation ein Burst-Steuersignal erzeugt, welches einen kurzen Puls in einer Sperrzeit eines Burst-Steuersignals besitzt, indem ein Pulsgenerator benutzt wird, um eine Voraufladezeit zu steuern. Entsprechend kann die Halbleiter-Speichereinrichtung, wenn sie ein Betriebstaktsignal mit hoher Frequenz empfängt, getestet werden, ohne eine Verzögerung einer Testzeit, indem ein Testschaltkreis benutzt wird, welches synchron mit einem niederfrequenzen Operationstaktsignal betrieben wird.
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