| 摘要 |
<p>Schaltungsanordnung zum Testen eines Analog-Digital-Umsetzers (2), die ein schnelles Testergebnis liefert und wenig anfällig ist für Bedienfehler. Die einzelnen digitalen Ausgänge des Analog-Digital-Umsetzers (2) werden in einer Kombinatorik (4) derart zusammengefaßt, daß nur ein Ausgangssignal entsteht. Dieses Ausgangssignal ist eine Rechteckfunktion, wobei die ansteigenden oder abfallenden Flanken die Schaltpunkte markieren. Dieses Ausgangssignal wird auf einen einzelnen Testpin (6) gegeben. Anschließend wird eine Testroutine durchgeführt, die zu jedem Schaltpunkt den momentanen digitalen Ausgangswert über einen Daten-Bus (8) ermittelt und in dem dazugehörigen Register ablegt. Als Daten-Bus (8) kann beispielsweise ein I2C-Bus verwendet werden.</p> |
