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Beschrieben wird ein Verfahren zum Betreiben eines Halbleiterspeichers (1) und ein solcher Halbleiterspeicher (1), bei dem Informationen mindestens dreifach in Speicheradressen mehrerer Speicherbereiche, vorzugsweise Speicherbänke (B1, B2, B3, B4), gespeichert und aus ihnen ausgelesen werden. Eine Prüfeinheit (10) mit Synchronisationsschaltungen (11) vergleicht die ausgelesenen Datenwerte und kann im Falle abweichender ausgelesener Informationen Speicherfehler feststellen und gegebenenfalls sofort korrigieren. Das hier vorgeschlagene Speicherbetriebsverfahren eröffnet neue Möglichkeiten bei dem quasistatistischen Zugriff auf Speicherzellen mit Hilfe einer Permutationsschaltung (20). Eine Fehlerprotokollschaltung (30) kann beim testweisen Betrieb des Halbleiterspeichers (1) anstelle oder zusätzlich zu ausgelesenen Datenwerten Fehlerprotokolldaten ausgeben.
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