发明名称 | 金属内连线的制作方法 | ||
摘要 | 一种金属内连线的制作方法,先提供一表面包含有一第一介电层的半导体基底,且该第一介电层中形成有至少一凹槽,接着于该凹槽表面依序形成一黏着层、一金属层以及一材料层,并利用该材料层封住该凹槽的洞口;然后进行一黄光暨蚀刻制程(PEP),以于该黏着层、该金属层以及该材料层中,形成至少一金属内连线;其中,封住该凹槽洞口的该材料层,用来防止该黄光暨蚀刻制程的光阻残留于该凹槽内,因此在进行金属内连线的黄光制程时,就不会有光阻层残余在介层洞之内,以有效避免如微粒、缺陷以及气泡等的异常现象的发生;所以本发明不但可以解决光阻残留的问题,而且不需要沉积太厚的钨层,以有效简化制程,解决成本增加及难以被平坦化的问题,进而达到提高良率的目的。 | ||
申请公布号 | CN1427465A | 申请公布日期 | 2003.07.02 |
申请号 | CN02155250.9 | 申请日期 | 2002.12.10 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 赖勇志;蒲耀鍊 |
分类号 | H01L21/768 | 主分类号 | H01L21/768 |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈红 |
主权项 | 1.一种制作金属内连线的方法,其特征是:该方法包含有下列步骤:提供一半导体基底,且该半导体基底上包含有一导电区域,以及一第一介电层覆盖于该半导体基底以及该导电区域上方;对该第一介电层进行一黄光暨蚀刻制程(PEP),以于该第一介电层中形成至少一凹槽,直至该导电区域表面;于该第一介电层以及该凹槽表面依序形成一黏着层以及一金属层,且该金属层以及该黏着层并未完全填满该凹槽;于该金属层表面形成一材料层,且该材料层封住该凹槽的洞口,并于该凹槽内形成一孔洞;于该材料层表面形成一图案化的光阻层,用来定义出至少一金属内连线的图案;进行一蚀刻制程,去除未被该光阻层所覆盖的该材料层、该金属层以及该黏着层,以形成该金属内连线;去除该光阻层;以及于该金属内连线以及该第一介电层表面形成一第二介电层。 | ||
地址 | 台湾省新竹市 |