发明名称 |
测试座接口电路板 |
摘要 |
一种测试座接口电路板。其适用于测试集成电路。此测试座接口电路板具有第一区信号线接点、第一区测试点、第二区信号线接点、以及第二区测试点。其中第一区信号线接点具有第一组信号线接点与第二组信号线接点。第一区测试点连接至第一区信号线接点。第二区信号线接点具有第三组信号线接点与第四组信号线接点。而第二区测试点连接至该第二区信号线接点。其中第一组信号线接点与第二组信号线接点左右对称,第三信号线接点与第四信号线接点左右对称。 |
申请公布号 |
CN1427660A |
申请公布日期 |
2003.07.02 |
申请号 |
CN01140346.2 |
申请日期 |
2001.12.17 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
施光华;施正吾;曾文峰 |
分类号 |
H05K1/00;G01R31/28;H01L21/66 |
主分类号 |
H05K1/00 |
代理机构 |
北京集佳专利商标事务所 |
代理人 |
王学强 |
主权项 |
1.一种测试座接口电路板,其适用于测试一集成电路,其特征为:该测试座接口电路板包括:一第一区信号线接点,包括:一第一组信号线接点;以及一第二组信号线接点一第一区测试点,连接至该第一区信号线接点;一第二区信号线接点,包括:一第三组信号线接点;以及一第四组信号线接点;以及一第二区测试点,连接至该第二区信号线接点;其中该第一组信号线接点与该第二组信号线接点对称排列于该第一区测试点的两侧,该第三信号线接点与该第四信号线接点对称排列于该第二区测试点的两侧。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区力行路16号 |