| 发明名称 | 基于平行线的单视平面测量方法 | ||
| 摘要 | 一种基于平行线的单视平面测量方法，包括步骤：拍摄一幅或多幅被测场景的图像；从图像中提取出场景中所包含的两组相互垂直的平行线或线段及参考距离信息；计算出这两组平行线在图像上的消隐点并利用这两个消隐点构造一个变换矩阵；由此变换矩阵和参考距离求出场景中任意两点间的距离。本发明提供的测量方法不需要对摄像机参数进行标定，而且具有简便、实用、测量精度高、鲁棒性好等特点，使基于视觉的测量方法走向实用。 | ||
| 申请公布号 | CN1427246A | 申请公布日期 | 2003.07.02 |
| 申请号 | CN01140336.5 | 申请日期 | 2001.12.17 |
| 申请人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明人 | 王光辉;胡占义 |
| 分类号 | G01C11/00 | 主分类号 | G01C11/00 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 戎志敏 |
| 主权项 | 1.一种基于平行线的单视平面测量方法，包括步骤：拍摄一幅或多幅被测场景的图像；从图像中提取出场景中所包含的两组相互垂直的平行线、线段、参考距离；计算出这两组平行线在图像上的消隐点并利用这两个消隐点构造一个变换矩阵；根据此变换矩阵和参考距离求出场景中任意两点间的距离。 | ||
| 地址 | 100080北京市海淀区中关村南一条1号 | ||