发明名称 测量定位治具
摘要 本创作系提供一种测量定位治具,其系用以在一光谱分析仪中定位一PS偏极性转换器,测量定位治具包含一第一治具构件、一第二治具构件以及一定位构件。其中,第一治具构件系设有一第一固定部及一第一遮光部,第一固定部及第一遮光部系以一角度相互连接;第二治具构件系设有一第二固定部及一第二遮光部,第二固定部及第二遮光部系以第一固定部与第一遮光部所成之角度相互连接,且第二治具构件系相对于该角度方向而置于第一治具构件之上;定位构件系用以将第二治具构件定位于第一治具构件之上。
申请公布号 TW540696 申请公布日期 2003.07.01
申请号 TW091208066 申请日期 2002.05.31
申请人 精碟科技股份有限公司 发明人 詹淑静;方裕贤;金克恕;余安华;张智能
分类号 G01N21/01 主分类号 G01N21/01
代理机构 代理人 刘正格 台北市大同区重庆北路三段六十八号二楼
主权项 1.一种测量定位治具,其系用以在一光谱分析仪中定位一PS偏极性转换器,该测量定位治具包含:一第一治具构件,系设有一第一固定部及一第一遮光部,该第一固定部及该第一遮光部系以一角度相互连接;一第二治具构件,系设有一第二固定部及一第二遮光部,该第二固定部及该第二遮光部系以该第一固定部与该第一遮光部所成之角度相互连接,且该第二治具构件系相对于该角度方向而置于该第一治具构件之上;以及一定位构件,系用以将该第二治具构件定位于该第一治具构件之上。2.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,更包含一扣合构件,系用以扣制该第二治具构件,俾使该第二治具构件于一适当范围中移动。3.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,其中该第一固定部具有复数个定位孔。4.如申请专利范围第3项所述之测量定位治具,更包含一固定构件,系经由该第一固定部之定位孔,而将该第一治具构件固定于该光谱分析仪中。5.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,其中该第一固定部具有一位移孔,该位移孔系平行于该第一固定部与该第一遮光部连接端缘。6.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,其中该第一遮光部系具有一狭缝。7.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,其中该第二固定部具有一位移孔,该位移孔系垂直于该第二定部及该第二遮光部连接端缘。8.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,其中该第二遮光部系具有一狭缝。9.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,更包含该定位构件系为一螺接元件,该螺接元件系锁定该第一固定部之位移孔与该第二固定部之位移孔的交点,用以固定该第二治具构件的位置。10.如申请专利范围第1项所述之测量定位治具,其中该PS偏极性转换器系置于该第一遮光部与该第二遮光部之间。图式简单说明:图1系习知之测量治具的示意图。图2A及2B系本实施利之测量定位治具的示意图。图3系本实施例之测量定位治具实施的示意图。图4a至图4f系本实施例之测量定位治具实施之示意图。
地址 台北县五股乡五权七路十三号