| 主权项 |
1.一种盲目等化器失效验证的方法,一盲目等化器藉由调整其内部的复数个权重来等化一输入信号,其包括下列步骤:在一固定周期内的一主信号时点,由一信号产生回圈产生一主位置信号;该主位置信号乘以一组连续递减信号得到一主信号;提供由一码际干扰产生回圈连续产生之一干扰位置信号,该干扰位置信号产生在上述固定周期内非该主信号时点的复数个时点;将上述干扰位置信号乘以一组连续信号得到一干扰信号;将上述主信号和上述干扰信号相加产生上述输入信号;将上述输入信号送入上述盲目等化器中;以及该盲目等化器为了等化上述输入信号,上述盲目等化器中消除该干扰信号的对应权重会进入溢位状态;其中上述码际干扰产生回圈的起始状态由一切割器的切割位准所决定,上述主信号的振幅在经过上述盲目等化器后要超过该切割器的切割位准,以及上述干扰信号的振幅在经过上述盲目等化器后都小于上述切割器的切割位准。2.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中该盲目等化器为了等化上述输入信号,上述盲目等化器中消除该干扰信号的对应权重会进入溢位状态,更包括下列两部份:对于上述主要讯号,上述主信号为连续递减信号,且上述输入信号中包括该主信号,为了使该主信号的振幅在经过上述盲目等化器后都超过上述切割器的切割位准,该盲目等化器中该主要讯号的对应权重会逐渐增加,最后会进入溢位状态;对于上述干扰信号,在上述主信号为连续递减信号的情形下,为了使该干扰信号的振幅在经过上述盲目等化器后都小于上述切割器的切割位准,该盲目等化器中该干扰信号的对应权重会逐渐增加,最后进入溢位状态。3.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中由选择上述主位置信号产生的主信号时点和上述干扰位置信号产生的时点来指定上述盲目等化器中溢位的权重。4.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述输入信号中的干扰信号可由复数个前导的码际干扰位置信号和复数个后置的码际干扰位置信号所组成。5.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述连续信号为一组连续递增信号。6.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述连续信号为一组连续递减信号。7.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述主信号的振幅形成一主信号斜率。8.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述干扰信号的振幅形成一干扰信号斜率。9.如申请专利范围第1.7或8项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述盲目等化器还包括一学习常数,上述主信号斜率和上述干扰信号信号斜率的绝对値都小于该学习常数。10.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述盲目等化器还包括复数个暂存器,上述递减信号和上述连续信号中的每个讯号间隔大于上述暂存器的数目。11.如申请专利范围第1项所述的盲目等化器失效验证的方法,其中上述盲目等化器内的权重会依据上述输入信号做调整,其调整方法为最小平均平方演算法(Least-Mean-Square,LMS)、递回最小平方演算法(Recursive Least Square,RLS)或可调整盲目等化器权重之其他任何方法。图式简单说明:第1图系表示习知盲目等化器之电路方块图。第2图系表示本发明实施例之盲目等化器失效验证的方法之流程图。第3图系表示本发明实施例中信号产生关系图。第4图系表示本发明实施例中输入信号的示意图。第5图系表示本发明实施例中盲目等化器之电路方块图。第6图系表示本发明实施例中切割器的输入和输出的准位关系图。 |
