发明名称 | 积体电路之导线检测装置 | ||
摘要 | 本案创作系为一种积体电路之导线检测装置,其系包含一基座及一检测盖;该基座上端面设有凹陷适当深度之容置槽,容置槽上凸设有支撑条,容置槽两侧又设有略高之承置凸缘者;该检测盖系于两边块之两侧各延设一框条,使两边块与两框条形成一框体,再于两边块之间设有对应条,使对应条将该框体分隔成若干检视区,各检视区可供一透明材质制成之检视片容置,并且令检视片之两侧承座于两边块之端面,而检视片可于两边块之端面移动,再藉两封边块分别固定于检测盖之两侧边,而可将各检视片限位且不致掉落,检测盖之两框条及对应条底缘各又凸设有对应凸缘,对应凸缘分别对应于基座之承置凸缘及支撑条者;藉此,可将积体电路(尚未封装胶壳之前)之基板置于基座之承置凸缘及支撑条上端面,嗣将检测盖对应覆盖于基座,利用检视片来检测积体电路之导线弧高,进而提供一种加工更为简便及具有较佳测量精确度之检验装置者。 | ||
申请公布号 | TW540715 | 申请公布日期 | 2003.07.01 |
申请号 | TW091203115 | 申请日期 | 2002.03.13 |
申请人 | 华泰电子股份有限公司 | 发明人 | 杨春财;苏振平;蔡敏郎 |
分类号 | G01R31/02 | 主分类号 | G01R31/02 |
代理机构 | 代理人 | 洪仁杰 高雄市三民区九如二路五九七号十四楼之二 | |
主权项 | 一种积体电路之导线检测装置,其系包含一基座及一检测盖;其中:基座,其上端面设有凹陷适当深度之容置槽,容置槽上凸设有支撑条,容置槽两侧又设有略高之承置凸缘者;检测盖,其系于两边块之两侧各延设一框条,使两边块与两框条形成一框体,再于两边块之间设有对应条,使对应条将该框体分隔成若干检视区,各检视区可供一透明材质制成之检视片容置,并且令检视片之两侧承座于两边块之端面,而检视片可于两边块之端面移动,再藉两封边块分别固定于检测盖之两侧边,而可将各检视片限位且不致掉落,检测盖之两框条及对应条底缘各又凸设有对应凸缘,对应凸缘分别对应于基座之承置凸缘及支撑条者;藉此,可将积体电路(尚未封装胶壳之前)之基板置于基座之承置凸缘及支撑条上端面,嗣将检测盖对应覆盖于基座,进而利用检视片来检测积体电路之导线弧高。图式简单说明:第一图:积体电路之示意图。第二图:习知检测装置立体构造图。第三图:习知检测装置之剖视构造图。第四图:习知检测装置之检测示意图。第五图:本案创作之立体构造图。第六图:本案创作检测盖之仰角立体构造图。第七图:本案创作之剖视构造图。第八图:本案创作之检测示意图。第九图:本案创作另一实施例之剖视构造图。 | ||
地址 | 高雄市楠梓区楠梓加工出口区中三街九号 |