| 发明名称 |
MICROPROCESSOR-BASED PROBE FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2002351111(A1) |
申请公布日期 |
2003.06.30 |
| 申请号 |
AU20020351111 |
申请日期 |
2002.12.02 |
| 申请人 |
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
IVO, W., J., M. RUTTEN |
| 分类号 |
G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/316 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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