发明名称 | 用于快速测试的半导体取送机 | ||
摘要 | 公开了一种带状,引线框架的,或板型的用于测试半导体部件的取送装置。该取送装置具有嵌入的电阻加热器的热板组件。这些加热器分区单独控制,用来在高温测试时为整个板提供均匀温度。板中形成有冷却通道。该板还提供混合通道,以便使用不同类型的冷却流体以不同速率冷却,或以不同水平保持低温。该冷却通道也分区配备,以提高温度均匀性。在测试中用真空通道使半导体部件与热板紧密接触。 | ||
申请公布号 | CN1426595A | 申请公布日期 | 2003.06.25 |
申请号 | CN01808613.6 | 申请日期 | 2001.04.13 |
申请人 | 泰拉丁公司 | 发明人 | 安德烈亚斯·C·普法恩尔;约翰·D·穆尔 |
分类号 | H01L21/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 谷惠敏;袁炳泽 |
主权项 | 1.一种具有热板的半导体取送系统,该系统包括:(a)上表面,其中具有多个孔;(b)内部区域,其具有:i)其中形成的真空通道,该真空通道连与孔连接;ii)嵌在内部区域的电阻加热器;以及iii)一个通道,它具有流体入口和流体出口,所述通道嵌在内部区域中。 | ||
地址 | 美国马萨诸塞州 |